电磁干扰屏蔽效能基本概念的澄清

公开文献中关于电磁干扰屏蔽效能（EMI SE）这一评估屏蔽性能的关键指标存在严重误解，这误导了投身电磁屏蔽材料领域的毕业生与新手。在经典Schelkunoff理论中，EMI SE定义为包括反射损耗、吸收损耗与多次反射损耗三项之和，而在实践中其被分解为名为反射损耗与吸收损耗的两项，本文称之为计算理论。我们通过理论推导与实例分析阐明了与EMI SE相关的广泛误解。首先，在计算理论中，当多次反射损耗可忽略时，其各项常被误认为是Schelkunoff理论中同名项的近似。其次，在吸收损耗高于反射损耗时判定吸收主导的屏蔽性能是不充分且不合理的，因为反射损耗与吸收损耗不能代表反射与吸收功率的实际水平。建议使用功率系数来比较反射与吸收对屏蔽性能的贡献。第三，计算理论中反射损耗与吸收损耗的定义已包含多次反射效应，且不同于常见的错误理解，本文澄清了多次反射对屏蔽性质的影响。这些澄清为正确理解屏蔽机制及评估反射与吸收对总屏蔽的贡献提供了依据。