ShieldBypass：电磁屏蔽后阻抗泄漏的持久性研究
密码学与安全
2026-05-08 v2 新兴技术
摘要
电磁 (EM) 屏蔽广泛用于抑制辐射发射并限制被动 EM 侧信道泄漏。然而，屏蔽并不处理主动探针情形，即对手注入外部射频 (RF) 信号并观察设备反射响应。本工作研究当屏蔽抑制辐射发射后，阻抗调制反射是否仍然可见。通过注入受控 RF 信号并分析反射，我们表明，即使在屏蔽抑制辐射后，状态相关的阻抗变化仍可在屏蔽主要衰减带之外的频率处被观察到。使用在 FPGA 和单片机上实现的处理器原型以及在三种行业标准屏蔽下评估的工作负载轮廓，我们发现被动 EM 测量在屏蔽下失去判别力，而反射响应仍可分离。这些结果表明，即使在屏蔽系统中，主动 RF 探针也能暴露与执行相关的行为，从而动员在硬件安全评估流程中考虑主动阻抗基于探针。
引用
@article{arxiv.2603.04801,
title = {ShieldBypass: On the Persistence of Impedance Leakage Beyond EM Shielding},
author = {Md Sadik Awal and Md Tauhidur Rahman},
journal= {arXiv preprint arXiv:2603.04801},
year = {2026}
}