CdZnTe 辐射探测器晶体性能与缺陷的表征
材料科学
2024-09-12 v1 计算物理
摘要
CdZnTe 基探测器因其高光谱分辨率而备受青睞，这是核医学成像的关键特性。然而，当晶体中存在显著缺陷时，这一分辨率将受到影响。本研究提出一种基于学习的方法，用于确定半导体探测器中bulk属性和缺陷的空间依赖性。这种表征允许我们消除和补偿由晶体杂质引起的不良效应。我们使用计算机生成的无噪声输入数据测试了该模型，结果显示其精度优秀，在预测值与真实值之间的平均 RMSE 为 0.43%。此外，还进行了灵敏度分析，以确定噪声数据对模型精度的影响。
引用
@article{arxiv.2409.06738,
title = {Characterization of Crystal Properties and Defects in CdZnTe Radiation Detectors},
author = {Manuel Ballester and Jaromir Kaspar and Francesc Massanes and Srutarshi Banerjee and Alexander Hans Vija and Aggelos K. Katsaggelos},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.06738},
year = {2024}
}