利用四波混频测量薄膜 CH3NH3PbI3 钙钛矿中的载流子扩散
材料科学
2017-10-11 v1
摘要
我们报道了飞秒四波混频（FWM）在研究溶液法制备的 CH3NH3PbI3 中载流子输运的应用。利用瞬态光栅技术直接探测载流子的横向扩散，并结合 boxcar 激发束几何构型的多功能性同时测量衰减动力学，从而提取出扩散系数。观察到瞬态光栅随脉冲间延迟呈指数衰减，表明在激发后的第一个纳秒内为扩散输运，且陷阱效应可忽略。我们实验中的面内输运几何构型使得扩散长度能够与晶粒尺寸直接比较，表明载流子在复合前会跨越多个晶界。我们的实验证明了 FWM 光谱技术在快速表征宏观薄膜输运特性方面的广泛实用性。
引用
@article{arxiv.1706.04154,
title = {Carrier Diffusion in Thin-Film CH3NH3PbI3 Perovskite Measured using Four-Wave Mixing},
author = {D. Webber and C. Clegg and A. W. Mason and S. A. March and I. G. Hill and K. C. Hall},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.04154},
year = {2017}
}