欠阻尼约瑟夫森结中的电容增强热逃逸
介观与纳米尺度物理
2012-07-17 v2
摘要
我们实验研究了在 0.5 K 温度以下具有亚微安临界电流的欠阻尼电容分流和未分流约瑟夫森结中的逃逸动力学。在分流结中，热激活过程一直保持到最高温度，而在未分流结中，逃逸表现出相位扩散。我们在分流结中的观察结果与标准热激活逃逸吻合良好，这与未分流结中的结果不同。
引用
@article{arxiv.1012.0541,
title = {Capacitively Enhanced Thermal Escape in Underdamped Josephson Junctions},
author = {Y. Yoon and S. Gasparinetti and M. Möttönen and J. P. Pekola},
journal= {arXiv preprint arXiv:1012.0541},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 3 figures