我们能信任温度 - 失配应变薄膜相图吗？
材料科学
2013-05-08 v4
摘要
目前用于描述铁电薄膜热力学的方法（朗道理论或基于第一性原理的蒙特卡洛模拟）均基于对内自由度的能量展开。研究表明，除非考虑高阶机电相互作用，否则这些方法可能存在显著的不准确性。高阶机电耦合会强烈重整化热力学能量展开中的六次方极化项。在本文中，除了一般性陈述外，我们以 BaTiO3 薄膜的温度 - 失配应变相图为例进行了说明，该相图是利用第一性原理计算评估的高阶机电相互作用推导得出的。
引用
@article{arxiv.1204.2958,
title = {Can we trust the temperature - misfit strain thin film phase diagrams?},
author = {Alexander Kvasov and Alexander K. Tagantsev},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.2958},
year = {2013}
}