氢金结中的双稳态迟滞与电阻开关
介观与纳米尺度物理
2015-05-13 v2 材料科学
摘要
H2-Au分子结的电流-电压特性在约40 mV的特征电压附近展现出引人注目的台阶。令人惊讶的是，我们发现这些台阶与一个特征时间尺度大于10 ms的迟滞相关联。该时间常数与结中耗散功率超过偏移功率P_s = IV_s的部分呈线性关系。我们提出，该迟滞与结中分子及周围一组氢分子的振动加热有关。值得注意的是，我们可以设计我们的结，使得迟滞的特征时间超过数天。我们证明，基于此类结可以构建可靠的开关器件。
引用
@article{arxiv.0906.5006,
title = {Bistable hysteresis and resistance switching in hydrogen gold junctions},
author = {M. L. Trouwborst and E. H. Huisman and S. J. van der Molen and B. J. van Wees},
journal= {arXiv preprint arXiv:0906.5006},
year = {2015}
}
备注
Submitted to Phys. Rev. Lett