量子点单电子隧穿中的双峰计数统计
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v1
摘要
我们利用量子点接触作为非侵入式高带宽电荷探测器，探索了通过量子点的单电子隧穿的全计数统计。对于量子点上若干连续电子数，测量了计数隧穿事件分布随栅极电压和源漏电压的函数关系。对于特定构型，在使得激发态变得可及的偏压下，我们观察到了超泊松统计。有趣的是，相关的计数分布表现出双峰特征。通过分析电子计数的时间依赖性，我们将其与量子点上不同电子构型之间的慢切换联系起来。
引用
@article{arxiv.0705.2420,
title = {Bimodal Counting Statistics in Single Electron Tunneling through a Quantum Dot},
author = {C. Fricke and F. Hohls and W. Wegscheider and R. J. Haug},
journal= {arXiv preprint arXiv:0705.2420},
year = {2009}
}