批量半导体中超出点状缺陷的junction光谱技术：用于钙钛矿太阳能电池和2D材料
材料科学
2026-03-17 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
Junction光谱技术（JST）是研究半导体中电活性缺陷的强大工具。最初开发用于研究批量半导体中的点状缺陷，JST此后已扩展到越来越复杂的系统，为缺陷能级和相互作用提供了宝贵的见解。本综述论文概述了JST的基本原理，并批判性地检查了其在新兴材料中的应用，如钙钛矿太阳能电池和二维（2D）材料。通过突出JST在这些非经典系统中的能力与局限性，综述表明其持续的相关性以及在推进下一代半导体材料和器件方面发挥着重要作用。
关键词
引用
@article{arxiv.2602.20764,
title = {Beyond Point-like Defects in Bulk Semiconductors: Junction Spectroscopy Techniques for Perovskite Solar Cells and 2D Materials},
author = {Ivana Capan},
journal= {arXiv preprint arXiv:2602.20764},
year = {2026}
}