BEACON -- 基于贝叶斯优化的扫描透射电子显微术自动畸变矫正
材料科学
2024-10-22 v1 仪器与探测器
摘要
畸变矫正是现代高分辨率扫描透射电子显微术的重要方面。大多数对准畸变校正器的方法需要特殊的样品区域，不适用于在进行中实验时进行细微畸变调校。本文提出了一种自动化方法，用于矫正一阶和二阶畸变，称为 BEACON 系统，该系统利用对归一化图像方差进行贝叶斯优化，以高效确定最佳校正器设置。我们在金粒子和硝化锆薄膜上演示了其用途，显示其在纳米级和原子级实验中的多样性。BEACON 可以同时矫正所有一阶和二阶畸变，以实现初始对准和独立进行一阶和二阶畸变的细调。用于 ptychographic 重建，用于证明探头形状的改进以及对目标畸变的减少。
引用
@article{arxiv.2410.14873,
title = {BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization},
author = {Alexander J. Pattison and Stephanie M. Ribet and Marcus M. Noack and Georgios Varnavides and Kunwoo Park and Earl Kirkland and Jungwon Park and Colin Ophus and Peter Ercius},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.14873},
year = {2024}
}