手征微扰论中低能常数的贝叶斯拟合方法

低能常数（LECs）的取值在手征微扰论中非常重要。本文采用带截断误差的贝叶斯方法全局拟合八个次领头阶（NLO）LEC $L_i^r$ 与次次领头阶（NNLO）LEC $C_i^r$。通过对截断误差的估计，NLO 与 NNLO 中 $L_i^r$ 的拟合结果非常接近。$C_i^r$ 的后验分布表明了这些 $C_i^r$ 的边界依赖关系。十个 $C_i^r$ 弱依赖于边界，其取值可靠。其余 $C_i^r$ 需要更多实验数据来约束其边界。一些 $C_i^r$ 的线性组合也以更可靠的后验分布被拟合。若已知某些更精确的 $C_i^r$ 值，可由这些值得到另一些 $C_i^r$。利用这些拟合出的 LEC，除 $\pi K$ 散射长度 $a_0^{3/2}$ 与 $a_0^{1/2}$ 外，多数观测量给出了良好的收敛性。还引入了一个例子以检验该方法的改进。所有计算表明，考虑截断误差可大幅改善全局拟合，且更多先验信息可获得更好的拟合结果。该拟合方法可推广至其他有效场论与微扰论。