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通过准粒子散射绘制双层石墨烯能带结构

材料科学 2015-02-12 v1 介观与纳米尺度物理

摘要

垂直电场破坏了 Bernal 堆垛双层石墨烯的层对称性,导致能隙打开并改变了载流子的有效质量。利用扫描隧道显微镜和谱学技术,我们研究了由双层/三层边界散射形成的双层石墨烯局域态密度中的驻波。准粒子干涉特性受双层石墨烯能带结构控制,从而允许直接局域探测双层石墨烯能带结构随电场的演化。我们提取了 Slonczewski-Weiss-McClure 模型的紧束缚参数:γ0=3.1\gamma_0 = 3.1 eV、γ1=0.39\gamma_1 = 0.39 eV 和 γ4=0.22\gamma_4 = 0.22 eV。

关键词

引用

@article{arxiv.1406.0898,
  title  = {Band Structure Mapping of Bilayer Graphene via Quasiparticle Scattering},
  author = {Matthew Yankowitz and Joel I-Jan Wang and Suchun Li and A. Glen Birdwell and Yu-An Chen and Kenji Watanabe and Takashi Taniguchi and Su Ying Quek and Pablo Jarillo-Herrero and Brian J. LeRoy},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1406.0898},
  year   = {2015}
}

备注

12 pages, 4 figures