铟线中的能带结构动力学

生长在 Si(111) 衬底上的一维铟线在高温下具有金属性，由于电荷密度波 (CDW) 的形成，在低于 $\sim100$ K 时转变为绝缘体。该转变的物理机制并非传统的，涉及具有强带间耦合的多带 Peierls 不稳定性。该 CDW 基态极易被飞秒激光脉冲破坏，导致光致绝缘体-金属相变。目前对该转变的理解尚不完整，需要测量瞬态电子结构以补充先前对晶格动力学的研究。为此，本文采用了极紫外辐射的时间分辨与角分辨光电子能谱。我们发现，从绝缘体到金属能带结构的转变发生在 $\sim660$ fs 内，这是振幅模周期的一小部分。瞬态的长寿命（$>100$ ps）归因于亚稳态的俘获，这与先前的工作相符。