sCMOS 传感器中随机电报噪声的自动检测与表征
天体物理仪器与方法
2025-11-06 v2
摘要
科学 CMOS（sCMOS）图像传感器是典型 CCD 探测器的现代替代品，由于其大尺寸、低读出噪声、高帧率和廉价的制造成本，在观测天文学中正迅速普及。然而，由于 CCD 和 CMOS 架构之间的根本差异，特别是在读出噪声的像素依赖性和非高斯性质方面，使用它们仍然存在许多挑战。后者的主要成分之一是随机电报噪声（RTN），由 sCMOS 图像传感器中靠近氧化物-硅界面缺陷引入的电荷陷阱引起，表现为像素输出信号中的离散跳变，降低了整体图像保真度。在这项工作中，我们提出了一种使用一系列暗帧来检测和表征受 RTN 影响像素的统计方法。识别受 RTN 污染的像素有助于制定后处理策略以减轻其影响，并有助于开发制造质量指标。
引用
@article{arxiv.2505.24540,
title = {Automatic detection and characterization of random telegraph noise in sCMOS sensors},
author = {Arda Özdoğru and Sergey Karpov and Asen Christov and Stanislav Vítek},
journal= {arXiv preprint arXiv:2505.24540},
year = {2025}
}
备注
Published in Proc. SPIE 13527, Optical Sensors 2025, 135270V (23 May 2025); https://doi.org/10.1117/12.3056499 Total of 12 Pages; 13 figures, some containing multiple images; 2 tables