Sb$_2$Te$_3$ 拓扑绝缘体的反常热膨胀
强关联电子
2012-07-03 v1
摘要
我们研究了拓扑绝缘体 SbTe 单晶沿六角 c 轴的线性热膨胀 ()、面内电阻率 () 和比热 () 的温度依赖性。 在 204-236 K 温度区间表现出明显的反常。线性热膨胀系数 在 204 K 以上迅速减小，在约 225 K 处经过一个深极小值，随后在 225-236 K 区间急剧增加。 在 221-228 K 区间为负值。除 反常区域外， 和 的温度依赖性在 2 至 290 K 范围内能很好地由 Debye 模型描述。
引用
@article{arxiv.1207.0073,
title = {Anomalous thermal expansion of Sb$_2$Te$_3$ topological insulator},
author = {P. Dutta and D. Bhoi and A. Midya and N. Khan and P. Mandal and S. Shanmukharao Samatham and V. Ganesan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.0073},
year = {2012}
}