近晶 C 相薄膜中缺陷的湮灭轨迹
软凝聚态物质
2020-07-23 v1
摘要
在二维液晶中，每个拓扑缺陷具有拓扑电荷与特征取向，因此可视为有向粒子。理论预测湮灭缺陷的轨迹取决于它们的相对取向。近来，这些预测已在近晶 C 相薄膜实验中被检验。那些实验发现了与预测相似的弯曲轨迹，但缺陷取向与远场指向矢之间的详细关系有所不同。为理解这一差异，我们通过加入弹性各向异性的影响扩展了先前理论，发现其显著改变了弯曲轨迹。
引用
@article{arxiv.2006.03124,
title = {Annihilation trajectory of defects in smectic-C films},
author = {Xingzhou Tang and Jonathan V. Selinger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.03124},
year = {2020}
}