各向异性声子态密度：Rietveld和穆斯堡尔织构分析在定向粉末中的应用
材料科学
2009-06-19 v2 强关联电子
摘要
虽然合成新型材料的单晶并不总是可行的，但定向层状多晶成为研究X射线或中子非弹性散射角度依赖性的有吸引力的方法。通过利用Rietveld分析新型锰氧化物和铜氧化物中的层状结构，我们发展了使用定向粉末而非单晶来研究其各向异性性质的方法。在A位有序锰氧化物LnBaMn2Oy的y=5和y=6系列（Ln=Y, La, Sm, Gd）中，声子态密度和原子热位移是各向异性的。我们建立了声子态密度对任意强度织构的角度依赖性，将X射线和伽马射线技术观察到的织构联系起来，并解决了穆斯堡尔谱中Goldanskii-Karyagin效应与织构的分离问题。
引用
@article{arxiv.0902.1801,
title = {Anisotropic phonon DOS: the application of Rietveld and Mossbauer texture analysis in aligned powders},
author = {A. I. Rykov and M. Seto and Y. Ueda and K. Nomura},
journal= {arXiv preprint arXiv:0902.1801},
year = {2009}
}
备注
6 pages; 5 figures, revised