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N=2 含物质规范理论中膜技术的解析工具

高能物理 - 理论 2016-04-13 v1

摘要

已知四维 N=2 超对称规范场论低能有效作用量(LEEA)的精确解,既可通过 Seiberg-Witten 方法中来自 S 对偶的量子场论方法得到,也可通过 IIA 型超弦/M 理论的膜技术方法得到。在简要回顾 N=2 规范(Seiberg-Witten)LEEA 的标准场论结果后,我们考虑用 N=2 谐超空间方法对精确超多重态 LEEA 作场论推导。我们在若干显式例子上阐释了我们的技术。然而,我们的主要目的是讨论膜技术这一替代方法的现有解析(计算)支撑。我们总结了已知的十一维与十维 IIA 型超重力的精确解,它们描述了具有八个超荷、与非微扰 N=2 具有基本超多重态物质的规范场论相关的相交 BPS 膜的经典构型。M 理论在提供十维(IIA 型超弦)膜图像中奇点的经典消解以及四维 N=2 扩充超对称中的关键作用得以彰显。因此,推导精确 N=2 规范理论 LEEA 的两种途径被看作互为补充且相互依赖。

关键词

引用

@article{arxiv.hep-th/9806009,
  title  = {Analytic tools to brane technology in N=2 gauge theories with matter},
  author = {Sergei V. Ketov},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-th/9806009},
  year   = {2016}
}

备注

80 pages, LaTeX, 7 pictures, macros included