On-Orbit ACIS 扫帱模式数据 Chip I0 分析

Shanil N. Virani; Paul P. Plucinsky; Catherine E. Grant; Beverly LaMarr

On-Orbit ACIS 扫帱模式数据 Chip I0 分析

天体物理学 2007-05-23 v1

作者: Shanil N. Virani , Paul P. Plucinsky , Catherine E. Grant , Beverly LaMarr

摘要

MIT 和 CXC ACIS 团队已探索了多种措施来缓解 ACIS 器件级 CCD 所遭受的辐射损伤。其中一种措施是一种名为“扫帱模式”的新型 CCD 读出方法。目前已对 I0 CCD 上的各种扫帱模式实现进行了测试。我们的拟合结果在 Al-K $\alpha$ 和 Mn-K $\alpha$ 处的 FWHM 明确显示，所有扫帱模式在减少 CTI 和改善光谱分辨率方面均提供了改进性能。我们分析了检测效率，结果表明所谓的“Vanilla”和“Maximum Observing Efficiency”扫帱模式在考虑放射性源强度衰减后，检测效率与标准时钟方式相同。采用慢速平行传输的扫帱模式（包括“Maximum Spectral Resolution”、“Maximum Angular Resolution”和“Sub-Array”）的检测效率显著低于标准时钟方式。慢速平行传输扫帱模式在从飞行等级 0 迁移到飞行等级 64 以及迁移到 ASCA g7 的情况下表现出严重的等级迁移，后者可解释部分检测效率下降。

关键词

ACIS 扫帱模式辐射损伤 CTI 光谱分辨率

引用

@article{arxiv.astro-ph/0112041,
  title  = {Analysis of On-Orbit ACIS Squeegee Mode Data on Chip I0},
  author = {Shanil N. Virani and Paul P. Plucinsky and Catherine E. Grant and Beverly LaMarr},
  journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0112041},
  year   = {2007}
}

备注

11 pages, 5 figures. To appear in ``The High Energy Universe at Sharp Focus'' (St. Paul, Minnesota 2001), eds Schlegel and Vrtilek (ASP Conference Series). Paper also at http://hea-www.harvard.edu/~svirani/paper.html

On-Orbit ACIS 扫帱模式数据 Chip I0 分析

摘要

关键词

引用

备注

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