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钙钛矿材料透射电镜表征中的误判分析

材料科学 2024-02-05 v6

摘要

有机-无机杂化钙钛矿(OIHPs)近年来因其卓越特性而成为突破性半导体材料。透射电子显微镜(TEM)作为一种非常强大的表征工具,已广泛用于钙钛矿材料的结构分析与物相鉴定。然而,钙钛矿对电子束高度敏感,易分解为 PbX2(X= I, Br, Cl)和金属 Pb。一般高分辨 TEM 的电子剂量远高于 MAPbI3 的临界剂量,导致普遍误判:将 PbI2 和 Pb 错误标定为钙钛矿。这些广泛存在的错误对钙钛矿研究领域的发展产生了负面影响。本文总结并纠正了最知名的 MAPbI3 钙钛矿的误判,进而对错误原因进行分类和确认。此外,还提出了用于物相鉴定的可靠方法以及减少钙钛矿材料辐射损伤的实际策略。本综述旨在提供错误原因,并避免未来钙钛矿研究领域中的误解。

关键词

引用

@article{arxiv.2009.04086,
  title  = {Analysis of misidentifications in TEM characterization of perovskite material},
  author = {Yu-Hao Deng},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2009.04086},
  year   = {2024}
}

备注

22 pages, 5 figures, 2 tables