具有宽带隙和低质量缺陷的薄膜声子晶体分析
应用物理
2019-10-23 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们提出了建模和设计具有低质量缺陷的薄膜声子晶体的技术，并针对力传感进行了优化。此外，我们明确了声子晶体质量对比度的重要性，因为它关系到声学带隙的大小和缺陷模式的耗散特性。特别地，我们量化了具有高鲁棒性声学隔离的高质量对比度声子晶体与缺陷模式软钳制减弱之间的权衡。我们在高应力化学计量氮化硅薄膜上制备了一组具有多种缺陷几何形状的声子晶体，并在室温和4 K下进行了测量，以表征不同几何形状下的耗散路径。对这些器件的分析突显了将低质量、低耗散力学模式集成到光机系统中的若干关键设计原则。
引用
@article{arxiv.1906.11273,
title = {Analysis of membrane phononic crystals with wide bandgaps and low-mass defects},
author = {Chris Reetz and Ran Fischer and Gabriel G. T. Assumpcao and Dylan P. McNally and Peter S. Burns and Jack C. Sankey and Cindy A. Regal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.11273},
year = {2019}
}
备注
12 pages, 11 figures