利用复杂热模型分析 X 射线跃迁边缘传感器的阻抗与噪声数据
超导电性
2015-06-03 v1 仪器与探测器
摘要
所谓的过剩噪声限制了跃迁边缘传感器（TES）探测器的能量分辨率，其物理起源尚不明确，已提出多种竞争模型。本文展示了在 SRON 制造的矩形 X 射线 Ti/Au TES 的噪声与阻抗数据分析。为了同时解释阻抗和噪声数据中的所有主要特征，我们采用了由三个热容块组成的热模型，而双块模型显然不足。这意味着，对于这些探测器，过剩噪声 simply 是器件内部部分的热涨落噪声。本文还给出了三块模型的阻抗和噪声方程。
引用
@article{arxiv.1112.0400,
title = {Analysis of impedance and noise data of an X-ray transition-edge sensor using complex thermal models},
author = {M. R. J. Palosaari and K. M. Kinnunen and M. L. Ridder and J. van der Kuur and H. F. C. Hoevers and I. J. Maasilta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.0400},
year = {2015}
}
备注
6 pages, 5 figures