超声原子力显微镜中接触刚度的分析：三维时变超声建模
介观与纳米尺度物理
2017-06-07 v1
摘要
超声原子力显微镜（US-AFM）已用于纳米结构的亚表面成像。接触刚度的变化被认为是图像对比度的起源。因此，为了分析图像对比度，应当计算由亚表面特征存在引起的接触刚度局部变化。迄今为止，仅进行了静态模拟来分析US-AFM中接触刚度的局部变化以及由此产生的对比度。这种静态方法并不能完全代表真实的US-AFM实验，在真实实验中，超声波被引入样品或探针尖端，从而调制接触刚度。这是一个时变非线性动力学问题，而非静态平稳问题。本文提出了US-AFM中接触刚度的动态三维超声分析（与静态分析相对），以真实预测接触刚度的变化，进而预测亚表面图像对比度的变化。调制频率也会影响接触刚度的变化，从而影响图像对比度。该三维时变超声分析将极大有助于US-AFM亚表面纳米成像的对比度优化。
引用
@article{arxiv.1701.07357,
title = {Analysis of contact stiffness in Ultrasound Atomic Force Microscopy: Three-dimensional time-dependent ultrasound modeling},
author = {Daniele Piras and Hamed Sadeghian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.07357},
year = {2017}
}
备注
11 pages, 5 figures