原子分辨率双模态原子力显微镜中图像质量对振幅的依赖性
介观与纳米尺度物理
2016-11-03 v1
摘要
在双模态FM-AFM中，两个弯曲模式同时被激发。针尖的总垂直振荡偏转范围是两种弯曲模式的峰峰振幅之和（和振幅）。我们展示了在环境条件下双模态AFM中KBr(100)的原子分辨率图像，其显示图像质量与和振幅之间的强相关性。当和振幅大于约200 pm时，信噪比(SNR)急剧降低。我们提出这是由针尖-样品间隙中一层或多层水的暂时存在引起的。这些水层屏蔽了短程相互作用，并且必须在每个振荡周期中被排开。然而，进一步减小和振幅会导致SNR降低。因此，在环境条件下，当和振幅略小于初级水化层厚度时，获得最高SNR。
引用
@article{arxiv.1605.06584,
title = {Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic microscopy},
author = {Hiroaki Ooe and Dominik Kirpal and Daniel S. Wastl and Alfred J. Weymouth and Toyoko Arai and Franz J. Giessibl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.06584},
year = {2016}
}
备注
3000 words, 3 Figures, 3 supplimentary figures