二维 Ising 自旋玻璃模型中的老化与域生长

通过大规模蒙特卡罗模拟，我们建立并研究了二维带高斯耦合的 Ising 自旋玻璃模型中的中断式老化。自旋自相关函数随 $t/\tau(t_w)$ 缩放，其中 $t_w$ 为等待时间，$\tau$ 在等待时间小于等效时间 $\tau_{\rm eq}$ 时等于 $t_w$。空间相关性随 $r/\xi(t_w)$ 缩放，其中相关长度 $\xi$ 给出系统中平均域大小信息。我们的结果更符合代数生长定律 $\xi(t_w)$，但也可优美地拟合为 $(\log t_w)^{1/\psi}$，其中 $\psi\approx0.63$。