针对复杂度各异的 Pt 薄膜样品讨论的硬 X 射线共振磁反射率高级数据分析流程

X 射线共振磁反射率（XRMR）是一种确定多种薄膜光学、结构与磁深度剖面的有力方法。此处，我们研究在 Pt L$_3$ 吸收边测量的不同复杂度样品，以确定实验 XRMR 曲线分析的最优流程，特别是针对层间具有不同成键 Pt 的非平凡双层与多层样品。软件工具 ReMagX 用于拟合这些数据并基于高度可调的层栈建模磁光深度剖面，该层栈被修正以更精确且物理一致地表示真实多层系统。利用多种拟合算法、迭代优化方法以及对不对称比特征和 $\chi^2$（拟合优度）地貌的详细分析，以改善测量与模拟间的一致性。我们提出一种逐步分析流程，专为 Pt 薄膜系统定制，以利用 XRMR 优异的磁灵敏度与深度分辨率。