以单层分辨率测量锰氧化物表面的磁化分布
强关联电子
2015-05-13 v1 材料科学
摘要
基于锰氧化物的磁性隧道结(MTJ)的性能受到结界面处磁化强度降低的影响，这最终决定了注入电流的自旋极化；这种行为被归因于通常延伸到锰氧化物内几个单胞的磁性“死层”。共振X射线磁散射(XRMS)是提取具有亚纳米分辨率的表面或界面磁化分布的最具创新性和最有效的技术之一，并且直到最近才被应用于氧化物异质结构。在此，我们介绍了使用XRMS技术表征此类异质结构的表面和界面磁化强度的方法，该实验在BEAR光束线(意大利的里雅斯特Elettra同步辐射光源)上进行。测量采用镜面反射几何结构，切换光的左/右椭圆偏振以及散射平面内的磁化方向。为了更好地分析干涉现象，在至少四个不同的掠射角下收集了跨越Mn L2,3边的光谱。对得到的反射率光谱进行了仔细拟合，以尽可能减少自由参数的数量，从而获得磁化分布。通过测量两种磁化状态下的吸收光谱并进行随后的Kramers-Kronig变换，得到了感兴趣频率范围内样品的光学常数(折射率的实部和虚部)，从而可以在不同温度下对磁化分布进行定量拟合。我们将此方法应用于研究在SrTiO3 (001)衬底上生长的外延La2/3Sr1/3MnO3 (001)薄膜的空气暴露表面。
引用
@article{arxiv.0905.3204,
title = {Measuring magnetic profiles at manganite surfaces with monolayer resolution},
author = {A. Verna and B. A. Davidson and Y. Szeto and A. Yu. Petrov and A. Mirone and A. Giglia and N. Mahne and S. Nannarone},
journal= {arXiv preprint arXiv:0905.3204},
year = {2015}
}
备注
11 pages + 3 figures; accepted to JMMM (2009)