可重复的 X 射线反射率优化：多层结构模型差分进化拟合的统计分析
材料科学
2014-11-03 v1 仪器与探测器
摘要
我们使用日本国家计量研究所 (NMIJ)/产业技术综合研究所 (AIST) 的预标准，测试了 X 射线反射率 (XRR) 测量和优化的可重复性。基于对重复精修的 bootstrap 分析（耗时数个 CPU 年），我们为确保 XRR 模型拟合结果的可重复性提供了具体的最佳实践建议。这些建议可用于研究仪器的重复性以及跨仪器的可重复性。由于所采用的优化方法存在于常用的商业软件中，因此可以快速应用于研究实验室、分析实验室以及制造环境中。
引用
@article{arxiv.1410.8524,
title = {Reproducible x-ray reflectometry optimization: statistical analysis of differential evolution fitting of multilayer structural models},
author = {Donald Windover and David Gil and Yasushi Azuma and Toshiyuki Fujimoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.8524},
year = {2014}
}
备注
9 Pages, 4 figures, XTOP 2014 Conference Proceeding