石墨烯共振散射的从头算输运指纹
介观与纳米尺度物理
2012-12-17 v1
摘要
我们最近表明，通过对石墨烯中随机分布的拓扑缺陷采用标度方法，即使基于单缺陷计算也能计算出宏观样品传输性能的可靠估计值 [A. Uppstu et al., Phys. Rev. B 85, 041401 (2012)]。现在，我们将这种能量依赖散射截面的方法扩展到石墨烯上的吸附物情况，研究了氢和碳吸附原子以及环氧基和羟基。我们表明，可以通过单缺陷系统的密度泛函理论结果获得对共振散射的定性理解，从而提供表征每种吸附物类型的传输“指纹”。利用这些信息，可以直接使用从头算方法可靠地预测中等缺陷密度下的弹性平均自由程。我们提出了碳和环氧吸附物的紧束缚参数，这些参数是通过匹配基于密度泛函理论的散射截面获得的。
引用
@article{arxiv.1211.7170,
title = {Ab-initio transport fingerprints for resonant scattering in graphene},
author = {Karri Saloriutta and Andreas Uppstu and Ari Harju and Martti J. Puska},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.7170},
year = {2012}
}