由第一性原理二阶拉曼光谱揭示石墨烯层堆垛序的表征特征
材料科学
2018-06-18 v1
摘要
我们基于密度泛函理论，对不同堆垛排列和层数的石墨烯基材料的一阶和二阶拉曼光谱进行了第一性原理研究。从单层、双层石墨烯到周期性石墨结构，我们研究了由同一组光子能量激发的一阶 G 带和二阶 2D 带的行为。前者在所有考虑的石墨烯基材料中非常相似，而后者中我们发现了各结构的特征。通过对入射辐射频率变化的二阶拉曼光谱的系统分析，我们监测拉曼信号并识别出每种特定排列所特有的不同声子模的贡献。在与实验结果及基于替代方法的先前理论研究的良好一致性支持下，我们的结果提出了一种探测和分析石墨烯基及其他低维材料堆垛特征的有效工具。
引用
@article{arxiv.1806.06026,
title = {Fingerprints of stacking order in graphene layers from ab initio second-order Raman spectra},
author = {Albin Hertrich and Caterina Cocchi and Pasquale Pavone and Claudia Draxl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.06026},
year = {2018}
}