微电子生产中由事件依赖性引发的变异性研究
应用统计
2017-11-20 v1
摘要
复杂制造系统面临高水平的变异性，这些变异性降低了生产率、增加了周期时间，并严重影响了系统的可处理性。由于对变异性来源进行准确建模是智能决策的基石，我们研究了在建模停机时间、到达时间或加工时间等变异性来源时通常所做的独立同分布变量假设所带来的后果。我们首先说明了通过仿真与统计检验来度量特定数据序列中所蕴含的变异性势的实验设置。基于工业数据，我们表明依赖性行为实际上可能是常态，并可能在周期时间方面带来相当可观的后果。由于复杂工业需要强有力的杠杆以实现其可处理性，本工作强调了需要对真实系统进行更丰富、更准确的建模。关键词——变异性；周期时间；依赖事件；仿真；复杂制造；工业4.0
引用
@article{arxiv.1711.06261,
title = {A study of variability induced by events dependency in microelectronic production},
author = {Kean Dequeant and Pierre Lemaire and Marie-Laure Espinouse and Philippe Vialletelle},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.06261},
year = {2017}
}
备注
International Conference on Industrial Engineering and Systems Management, Oct 2017, Saarebr{\"u}cke, Germany