作为河外研究新工具的微引力透镜变率二阶矩
星系天体物理
2021-05-11 v1
摘要
我们定义了一种观测差分微引力透镜曲线的二阶矩，可用于对透镜类星体的物理性质施加约束。我们表明该量对源尺寸和偏转体质量的变化均敏感。我们形式化了一种在质量谱固定时从观测测量中恢复源尺寸的方法。作为一个案例研究，我们用四个四重透镜的样本对其进行了检验，包括在模拟场景中和来自 的真实数据。在均匀恒星种群的模拟中，该方法最能探测约 爱因斯坦半径的源，对更小/更大尺寸给出正确的上/下限，且相较于单历元方法无需额外计算量的大幅增加，同时利用了多历元信息。我们假设一系列恒星质量将该方法应用于四个天体的少量 X 射线数据样本，得到了源尺寸与偏转体质量之间的简并关系。结合先前对 X 射线日冕尺寸的估计，该简并关系表明 X 射线微引力透镜主要由行星质量天体诱发。
引用
@article{arxiv.1805.11498,
title = {A Second-Order Moment of Microlensing Variability as a Novel Tool in Extragalactic Research},
author = {Eduardo Guerras and Xinyu Dai and Evencio Mediavilla},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.11498},
year = {2021}
}