利用天体测量方法破解双星微引力透镜事件中严重简并性的新应用

当源星被一个宽分离双星系统中的一颗恒星分量微引力透镜化时，在透镜事件结束后，可以额外探测到由另一颗双星引起的事件。本文研究了是否可以通过探测宽双星透镜事件中由次级双星引起的源像额外质心偏移，来分辨双星透镜事件中的近/远简并性。通过研究，我们发现如果源星靠近次级伴星的爱因斯坦环，利用未来高天体测量精度的后续观测可以轻松分辨该简并性。我们确定了在高放大率双星透镜事件中探测到额外质心偏移的概率。由此发现，对于间距$\lesssim 20.0$ AU的双星透镜事件，其简并性可以以显著的效率被分辨。我们还估计了在宽双星透镜事件中探测到额外质心偏移的等待时间。我们发现，对于典型的银河系透镜事件，若间距$\lesssim 20.0$ AU，额外质心偏移可在100天内被探测到，因此这些事件的简并性可以在一年内被充分破解。