电子玻璃老化实验中淬火冷却程序与门控协议的比较
无序系统与神经网络
2009-11-11 v1 强关联电子
摘要
远离平衡激发的安德森绝缘氧化铟薄膜表现出包括老化在内的多种记忆效应。最近，使用两种不同的实验协议在该系统中证明了完全老化。第一种（门控协议）采用 MOSFET 结构，涉及在两个栅极电压之间切换。在另一种不同的程序中，系统承受非欧姆纵向场 F 持续等待时间 tw，并在场切换回其线性响应值后监测 G 的弛豫。在本文中，我们描述了另一种协议，该协议涉及测量系统在从高温 TH 淬火冷却后，在某个低温 TL 下“老化”持续时间 tw 后的响应。与之前的协议一样，该程序导致完全老化行为。指出了淬火冷却协议的优点和缺点。比较并讨论了基于控制更好的、使用不同系统进行的门控协议的老化实验结果。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0610858,
title = {A quench-cooling procedure compared with the gate-protocol for aging experiments in the Electron-Glass},
author = {Z. Ovadyahu},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0610858},
year = {2009}
}