一种在傅里叶域估计实像空间分辨率的方法

空间分辨率是结构科学中的一个基本参数。在晶体学中，分辨率由倒易空间中的高角衍射探测极限确定。在电子显微学中，利用傅里叶域的相关性来估计分辨率。在本文中，我们报道了一种从傅里叶域的对数强度图估计实像空间分辨率的方法。测试图像的对数强度图表明，可以从图像中估计出高斯点扩散函数的半高全宽。利用该方法还估计了使用菲涅尔波带片光学的成像式 X 射线显微断层成像的空间分辨率。通过成像显微断层成像可视化的测试物体截面表明，高达 120 nm 间距的方波图案能够被分辨。从脑组织的断层截面计算出对数强度图。从该图估计的点扩散函数半高全宽与从测试物体确定的分辨率相吻合。这些结果表明，傅里叶域中的对数强度图提供了一种无需明确定义噪声准则即可衡量空间分辨率的替代方法。