应用于数学精确色度重建的 65 nm CMOS 传感器
仪器与探测器
2014-08-11 v1 天体物理仪器与方法
摘要
从图像传感器的光谱特性中提取色度图像信息是精确图像采集的关键问题。技术上可行的滤波器/传感器组合通常无法以足够的精度复现色度响应，从而无法直接应用于颜色表示。文献中已提出了多种变换来补偿这一点。然而，大多数方法依赖于启发式算法和/或引入了依赖于入射光照组成的重建。在本工作中，我们提出了一种独立于光照的光谱重建方法，该方法是以数学严格的方式推导出来的。它提供了一种确定性方法，可从任意传感器响应曲线获得目标光谱特性的最小均方误差近似。此外，我们展示了一种基于标准数字 65 nm CMOS 工艺的新型 CMOS 传感器设计。采用了新颖的电路技术，以实现与尺寸大得多的专用光敏 CMOS 工艺相当的性能。该传感器被用作光谱重建方法的测试平台。
引用
@article{arxiv.1408.1926,
title = {65 nm CMOS Sensors Applied to Mathematically Exact Colorimetric Reconstruction},
author = {C. Mayr and S. Henker and A. Krause and J. -U. Schlüßler and R. Schüffny},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.1926},
year = {2014}
}