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利用暗场 X 射线显微镜对再结晶铁中内晶残余应变和晶体结构进行 3D 映射

材料科学 2026-03-11 v1 应用物理

摘要

晶粒生长是金属加工中关键的热力学处理过程。最近,随着对剪切耦合晶界迁移机制的关注,人们对完全再结晶晶粒内部的局部残余应力引起日益关注。本文首次对完全再结晶商业纯铁中的残余弹性应变变异进行了直接实验测量,精度在 10410^{-4} 量级。通过暗场 X 射线显微镜 (DFXM),我们对晶体内的应变和取向变异进行了非破坏性三维测量。结果显示所有测量晶粒中都存在异质应变分布。在一个案例中,我们观察到多个孤立位错容纳两个第二相颗粒,表现出局部应变特征且无可检测的远程效应。讨论了晶内残余应变的形成机制,以及其在后续晶粒生长中对晶界迁移的潜在影响。该工作强调,在未来的晶粒生长模型中考虑此类残余弹性应变的重要性。

关键词

引用

@article{arxiv.2603.08968,
  title  = {3D Mapping of Intragranular Residual Strain and Microstructure in Recrystallized Iron Using Dark-Field X-ray Microscopy},
  author = {Virginia Sanna and Yubin Zhang and Wolfgang Ludwig and Aditya Shukla and Abderrahmane Benhadjira and Marilyn Sarkis and Can Yildirim},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2603.08968},
  year   = {2026}
}