由（相对）冷离子诱导的热电子
材料科学
2007-10-25 v1
摘要
薄膜金属 - 绝缘体 - 金属结被用于一种新颖的方法，以研究多重电荷离子撞击多晶金属表面时的势能耗散。离子 - 金属相互作用在顶层内产生激发的电子和空穴。这些载流子中有相当一部分向内传输，并可在薄膜隧道结中测量为内部电流。在 Ag-AlOX-Al 结中，在底部 Al 层检测到每个入射离子通常产生 0.1-1 个电子的产额。通过将 Ar 投射离子的电荷态从 2+ 变化到 9+（动能范围为 1 至 12 keV），研究了势能和动能对隧道产额的独立影响。研究发现隧道产额与投射离子的势能呈线性比例关系。
引用
@article{arxiv.0710.4433,
title = {Hot electrons induced by (rather) cold ions},
author = {Thorsten Peters and Christian Haake and Detlef Diesing and Domocos Kovacs and Artur Golczewski and Gregor Kowarik and Fritz Aumayr and Andreas Wucher and Marika Schleberger},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.4433},
year = {2007}
}
评论
9 pages, 3 figures