Z 玻色子衰变生成 b 夸克、轻 sbottom 与轻 gluino

Tevatron 中 b 夸克生产横截面测量值与理论值之间的偏差，可能由质为 12-16 GeV 的轻 gluino 以及质为 $2-5.5$ GeV 的轻 sbottom 所致。我们研究了一个相关的在 Z 极点处的过程 $Z \to b \tilde{b}_1^* \tilde{g} + \bar b \tilde{b}_1 \tilde{g}$，随后 $\tilde{g} \to b \tilde{b}_1^* / \bar b \tilde{b}_1$。该通道的 hadronic 分支比为 $(1-3) \times 10^{-3}$，这与 $R_b$ 不确定性的大小相当。我们发现，典型事件由一个有能量的即时 b 喷浆与一个由 b 夸克和两个 b 超夸克组成的“胖” b 喷浆构成，这两个喷浆相反。具有 $10^{-3}$ 分支比的此类事件可能影响 $R_b$ 的测量；如果能够识别“胖” b 喷浆，则更为有趣。