基于YBCO的非易失性ReRAM在近地轨道上的测试
应用物理
2020-08-27 v1 材料科学
摘要
本文提出了一种基于YBCO的测试结构，属于与价态变化机制相关的ReRAM器件家族。在将其发射至近地轨道(LEO)之前，我们使用标准电子设备以及专用的LabOSat-01控制器对其电学响应进行了表征，两种情况下的结果相似。在一颗小卫星上于LEO经历约200天后，使用LabOSat-01控制器对该存储器件开始了电学测试。我们讨论了在太空中433天时间间隔内进行的首批150次测试结果。尽管经历了发射、起飞振动、永久热循环以及电离辐射暴露等恶劣条件（剂量比地球上通常情况高3个数量级），该存储器件仍保持可操作。器件表现出与地球上测量的相似的阻变开关和IV特性，尽管存在随时间平滑漂移的变化。基于先前表明通过金属-YBCO界面存在多种导电机制的模型，对电传输机制进行的详细研究表明，观测到的漂移可与LabOSat控制器的局部温度漂移相关联，尚无明确证据可确定底层微观因素的变化。这些结果表明了基于复杂氧化物非易失性ReRAM的器件在太空应用所有恶劣条件下工作的可靠性。
引用
@article{arxiv.2006.15062,
title = {YBCO-based non-volatile ReRAM tested in Low Earth Orbit},
author = {C. Acha and M. Barella and G. A. Sanca and F. Gomez Marlasca and H. Huhtinen and P. Paturi and P. Levy and F. Golmar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.15062},
year = {2020}
}
备注
20 pages, 11 figures