正己烷/纳米胶体二氧化硅界面双电层的X射线研究
软凝聚态物质
2009-11-11 v1
摘要
利用X射线散射研究了绝缘体与电解质溶液之间过渡区域的空间结构。跨越正己烷/二氧化硅溶胶界面（含有5纳米、7纳米和12纳米胶体颗粒的溶液）的电子密度分布与双电层理论一致，并显示了正负电荷的分离。该界面由三层组成，即一个致密的Na+层，一个作为厚扩散层一部分的纳米胶体颗粒松散单层，以及夹在它们之间的一个低密度层。其结构由一个模型描述，其中界面处的电势梯度反映了阳离子Na+和阴离子纳米颗粒之间的“镜像力”电势差以及表面电荷的特定吸附。讨论了过渡区域强电场（1-10 GV/m）中水的密度以及扩散层中二氧化硅的分层现象。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0609261,
title = {X-ray study of the electric double layer at the n-hexane/nanocolloidal silica interface},
author = {Aleksey M. Tikhonov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0609261},
year = {2009}
}
备注
9 pages, 9 figures