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铜中由自旋流诱导的瞬态磁矩的X射线探测

材料科学 2015-09-02 v2

摘要

我们使用一种MHz锁相X射线谱显微技术,直接探测由于来自相邻Co层的自旋注入而在Cu中引起的磁矩变化。X射线的元素和化学性质特异性使我们能够区分两种自旋流诱导的效应。我们探测到由于自旋积累而在28 nm厚Cu薄膜体相内的Cu原子上产生了大小为3×1053\times 10^{-5} μB\mu_\mathrm{B}的瞬态磁矩。该磁矩值与Mott双电流模型的预测进行了比较。我们还观察到,杂化诱导的Cu界面原子上已有的磁矩瞬态增加了约10%或4×1034\times 10^{-3} μB\mu_\mathrm{B}。这揭示了在电流流动过程中,自旋转矩对齐相对于焦耳热引起的界面Cu磁矩无序占据主导地位。

关键词

引用

@article{arxiv.1503.07275,
  title  = {X-Ray Detection of Transient Magnetic Moments Induced by a Spin Current in Cu},
  author = {R. Kukreja and S. Bonetti and Z. Chen and D. Backes and Y. Acremann and J. Katine and A. D. Kent and H. A. Durr and H. Ohldag and J. Stohr},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1503.07275},
  year   = {2015}
}