用于光纤表征的X射线计算机$\mu$断层扫描
光学
2022-06-29 v1 材料科学
摘要
尽管玻璃纤维应用广泛,但利用全光学技术表征玻璃纤维仍面临一些局限。近来,X射线吸收已被提出作为可视化标准及微结构光纤内部结构的方法。在此,我们利用X射线吸收作为表征光学玻璃纤维的无损技术。从吸收对比X射线计算机微断层扫描测量出发,我们获得了光纤在光学频率下折射率空间分布的信息。我们通过将其结果与基于电子能谱或多光子显微镜的互补表征技术比较,确认了方法的有效性。
关键词
引用
@article{arxiv.2206.13806,
title = {X-ray computed $\mu$-tomography for the characterization of optical fibers},
author = {Mario Ferraro and Maria C. Crocco and Fabio Mangini and Maxime Jonard and Francesco Sangiovanni and Mario Zitelli and Raffaele Filosa and Joseph J. Beltrano and Antonio De Luca and Riccardo C. Barberi and Raffaele G. Agostino and Vincent Couderc and Stefan Wabnitz and Vincenzo Formoso},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.13806},
year = {2022}
}