Nb/Pd$_{84}$Ni$_{16}$/Nb结构中的宽带微波测量及与薄Nb薄膜的比较
超导电性
2011-01-21 v1
摘要
我们展示了使用Corbino盘技术在超导体/铁磁体异质结构上进行的宽带微波测量（1-22 GHz）。我们将该技术应用于处于涡旋态的Nb/PdNi/Nb三层膜，并将结果与使用相同技术在Nb薄膜上获得的数据进行比较。我们表明，可以从我们的频率相关测量中直接提取真实的磁通流电阻率，而无需克服（脱钉）临界电流。还可以在不依赖特定模型的情况下估计涡旋弛豫的特征频率。我们发现，与Nb薄膜相比，F层导致了钉扎的减弱和磁通流电阻率的增强。
引用
@article{arxiv.1012.1940,
title = {Wideband microwave measurements in Nb/Pd$_{84}$Ni$_{16}$/Nb structures and comparison with thin Nb films},
author = {E. Silva and N. Pompeo and S. Sarti},
journal= {arXiv preprint arXiv:1012.1940},
year = {2011}
}
备注
15 pages, submitted to Supercond. Sci. Technol., special issue on Hybrid Magnetic/Superconducting Systems