量子点接触的扫描门显微镜测量的是什么？
介观与纳米尺度物理
2010-10-13 v2
摘要
计算了相相干纳米结构中由局域微扰引起的电导变化。将微扰的一阶和二阶通式应用于包含量子点接触的二维电子气的扫描门显微镜。一阶修正依赖于来自相对两个导线的电子入射的两个散射态，并在电导平台上被抑制；它在台阶区域显著。在平台上，占主导的二阶项同样依赖于从两侧入射的散射态。它总是负的，呈现出条纹，并且其空间衰减与实验一致。
引用
@article{arxiv.1007.2605,
title = {What is measured in the scanning gate microscopy of a quantum point contact?},
author = {Rodolfo A. Jalabert and Wojciech Szewc and Steven Tomsovic and Dietmar Weinmann},
journal= {arXiv preprint arXiv:1007.2605},
year = {2010}
}
备注
4 pages, 1 figure, final version