氙氩实验相关材料的真空紫外光反射率测量
仪器与探测器
2026-04-27 v2 高能物理 - 实验
摘要
精确把握材料在真空紫外光 (VUV) 范围内的反射率对于优化贵金属探测器中的光子探测至关重要。尽管此重要性显而易见,但探测器材料在 VUV 区域的反射率值仍鲜有表征,文献中给出的值因表面终止方式和加工质地不同而呈现显著差异。我们在 IFIC 开发了一套用于气态氩气环境中的角分辨反射测量系统,能够在受控条件下对探测器材料进行真实测量。该装置将氘灯耦合至单色器,并采用带动 PMTs 绕样品旋转的运动式设计,实现宽角范围的反射光分布测量。我们对两类关键 DUNE 材料——铝型场笼轮廓和不锈钢冷却罩膜——在 UV-VIS (300-500 nm) 和 VUV (128-200 nm) 两个波段进行表征。在 UV-VIS 区域,我们确认铝约为 60% 的反射率、不锈钢约为 40% 的反射率。初步的 VUV 测量在 45° 入射角下得到两者均为 10-15% 的反射率,显著低于其 UV-VIS 对应值。反射光分布呈现镜面和漫反射的混合特性。这些结果直接影响下代际实验中的探测器仿真和光量预测。
引用
@article{arxiv.2601.16293,
title = {VUV Reflectance Measurements for Materials Relevant to Argon and Xenon Experiments},
author = {J. Soto-Oton and H. Amar and A. Cervera and A. Roche},
journal= {arXiv preprint arXiv:2601.16293},
year = {2026}
}
备注
7 pages, 3 figures. Conference paper. Version 2: Updated to reflect referee comments