聚四氟乙烯对氙闪烁光反射率随厚度的变化关系
仪器与探测器
2017-03-29 v2
摘要
许多稀有事件搜寻实验，包括暗物质直接探测和无中微子双贝塔衰变实验，利用由聚四氟乙烯（PTFE）反射材料制成的高真空紫外反射表面，以实现探测器内的高光收集效率。随着过去十年探测器尺寸的增大，对更薄探测器壁的需求也日益增加，同时要求反射率无明显损失，以减少活性惰性液体周围的死体积、出气和潜在本底。我们报告了在约178 nm波长处测量两种PTFE样品反射率随厚度变化的实验结果。当浸没在液氙中的圆柱形PTFE容器厚度在1 mm至9.5 mm之间变化时，未观察到反射率的变化。
引用
@article{arxiv.1608.01717,
title = {Reflectance dependence of polytetrafluoroethylene on thickness for xenon scintillation light},
author = {Jonathan Haefner and Alissa Neff and Maris Arthurs and Elizabeth Batista and Daniel Morton and Matt Okunawo and Kirill Pushkin and Aaron Sander and Scott Stephenson and Yuhan Wang and Wolfgang Lorenzon},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.01717},
year = {2017}
}
备注
7 pages, 10 figures