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氦离子显微镜中以原子精度可视化台阶与表面重构

材料科学 2017-03-20 v3

摘要

氦离子显微镜(Helium Ion Microscopy)以其表面敏感性和高横向分辨率而著称。在此,我们呈现基于氦离子显微镜对Pt(111)上表面受限Ag合金的研究结果。基于原子级平坦台地上跨越台地的25\,meV功函数变化,我们能够区分富Pt区与贫Pt区,并可视化台地之间单原子层高度的台阶。此外,去通道衬度(dechanneling contrast)已被用于测量在2–3层厚的Ag/Pt合金膜中形成的hcp/fcc图案的周期性。沿 112\langle\overline{11}2\rangle 表面方向测量到6.65\,nm的周期性。就晶体学而言,hcp域是通过最外层的某一部分沿 112\langle\overline{11}2\rangle 方向横向位移 1/31/\sqrt{3} 倍最近邻间距而获得的。该周期性以原子精度测量:观察到23个Ag原子对24个Pt原子的晶格重合。这些发现与低能电子显微镜(Low Energy Electron Microscopy)和相衬原子力显微镜(Phase Contrast Atomic Force Microscopy)所得结果完全吻合。

关键词

引用

@article{arxiv.1505.00020,
  title  = {Visualization of steps and surface reconstructions in Helium Ion Microscopy with atomic precision},
  author = {Gregor Hlawacek and Maciej Jankowski and Herbert Wormeester and Raoul van Gastel and Harold J. W. Zandvliet and Bene Poelsema},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1505.00020},
  year   = {2017}
}

备注

15 pages, 7 figures