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用于确定高电荷类氦离子中重叠超精细分裂的角分辨X射线光谱方案

原子物理 2017-07-12 v1

摘要

提出了一种角分辨X射线光谱方案,用于确定高电荷离子的超精细分裂。特别是对于类氦离子,我们提议测量初始 1s2s 1S0,Fi1s2s~^{1}S_{0}, F_{i} 能级受激衰变后产生的 1s2p 3P1,F1s2 1S0,Ff1s2p~^{3}P_{1}, F \rightarrow 1s^{2}~^{1}S_{0}, F_{f} 发射的角分布或偏振。研究发现,发射的X射线光子的角分布和偏振特性都强烈依赖于部分重叠的超精细 1s2p 3P1,F1s2p~^{3}P_{1}, F 共振的(相对)分裂,从而有助于分辨其超精细结构。所提出的方案利用当今的光子探测器即可实现,并能够以约 10410^{-4} 的相对精度测量类氦离子的超精细分裂。

关键词

引用

@article{arxiv.1707.03152,
  title  = {Angle-resolved x-ray spectroscopic scheme to determine overlapping hyperfine splittings in highly charged helium-like ions},
  author = {Z. W. Wu and A. V. Volotka and A. Surzhykov and S. Fritzsche},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1707.03152},
  year   = {2017}
}

备注

5 pages, 3 figures