通过高斯差方法可视化刻面和非平坦表面的原子结构

对刻面和非平坦表面获取的扫描探针显微镜数据进行详细分析通常很复杂，因为存在大量相对于扫描平面倾斜大/可变角度的表面区域。因此，通过平面减法或数值微分来消除全局或局部斜率的标准方法似乎无效。我们证明，简单的高斯差程序提供的输出数据对应于将所考虑的表面投影到扫描平面上，而不会产生不良的对比度变化。该方法允许我们抑制小尺度噪声，最小化SPM图像中沿快慢扫描方向的有限斜率效应，并在无需操作员主动参与的情况下去除表面波纹。该方法可用于实验数据的快速实时可视化，以及更详细的分析，包括高精度确定晶格参数和用于不同平台或表面域表面重建的平移矢量之间的角度。为了估计我们程序引入的几何畸变，我们将倾斜表面的高斯差方法结果与3D空间中的直接图像旋转进行了比较。